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論文

First measurement of longitudinal profile of high-power and low-energy H$$^{-}$$ beam by using bunch shape monitor with graphite target

北村 遼

Proceedings of International Beam Instrumentation Conference (IBIC 2022) (Internet), p.532 - 535, 2022/12

https://doi.org/10.18429/JACoW-IBIC2022-TH1I1

J-PARCリニアックでは大強度H$$^{-}$$ビームの縦プロファイルを測定するためにバンチシェイプモニタ(BSM)を用いている。モニタの動作原理はストリークカメラと同様であり、電圧印加した標的をH$$^{-}$$ビームへ挿入することでビーム由来の二次電子を引き出す。二次電子はBSM内部でビームと同期した高周波による変調を受けるため、二次電子の持つ縦プロファイルは横プロファイルへと変換される。ビームロスや大強度ビーム照射からの損傷を十分に抑制するには、BSMの標的素材の選定が重要である。本講演ではグラファイト標的を用いたBSMによる大強度3MeVビームの初測定を紹介する。

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